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Omni银源物体参数探测

2016年8月4日|产品
通过伊恩·迈克尔

Horiba科学的泛光灯银源物体参数探测nanoRaman系统使所有模式的参数操作:顶部,侧面和底部光学访问。他们的大部分贵金属(STM tips)或多层涂层AFM技巧。nanoRaman系统是保证使用时产生拉曼信号增强一个可靠的测试样品在633/638 nm。测试表明,探针可以达到> 40倍提高对比(向下倾斜,近场拉曼),和倾斜(远场拉曼),导致一个增强因素106

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