调查过程中的参数可靠,高效的AFM-Raman成像——HORIBA探测过程中的参数

可靠、高效的AFM-Raman成像探测过程中的参数

STM-TERS技巧和AFM-TERS技巧可用的HORIBA NanoRaman平台。

调查过程中的参数允许的所有模式源物体参数操作:顶部,侧面和底部光学访问。

批量做的贵金属(STM tips)或多层涂层AFM窍门,探针交付过程中的参数的保护性包装保质期最大化。

今天,银涂层参数提示,黄金涂布AFM-TERS技巧和黄金STM-TERS技巧是可用的(此句STM技巧可以粘在音叉剪切力和法向力缩微复制)。

证明参数可靠性和效率参数测试样本。

HORIBA发疯探针是保证生产的拉曼信号增强633/638 nm在一个可靠的测试样本制作轻松地显示性能。

保证性能的9的探针达到> 40对比(向下倾斜(近场拉曼)与倾斜(远场拉曼)),导致一个增强的因素EF 10⁶OMNI探测过程中的参数。

多信号的放大,真正的参数是nano-resolution的证据。STM-TERS探针和AFM-TERS探测器将执行例程15纳米分辨率使用我们的测试样本甚至以下。

源物体参数的映射一个碳纳米管显示光学空间分辨率下降到8海里证实部分参数乐队的强度分析。

为此,HORIBA提出一个测试样本分散单壁碳纳米管(碳纳米管)与氧化石墨烯片(去),分布范围允许简单的成像。

去,SWCNTs和富勒烯C60 co-deposited黄金。(一)地图4 x4µm过程中的参数相结合,每像素128像素每一行,100 ms。个人地图组件的分布,(b)石墨烯氧化物),(c) C60富勒烯,碳纳米管(d)。所有的碳物种都可以检测并解决。

因为从AIST-NT HORIBA集成关键SPM技术,因为我们有广泛的开发和测试执行的,我们有信心我们的仪器提供了最好的性能在市场上和我们能够保证成像过程中的参数和空间nano-resolution;我们节目现场!

NanoRaman设备的安装,显示了nano-resolution由我们的服务团队和用户第一次培训过程中的参数。一个发疯的过程,解释了一步一步的操作来获取参数成像。

因为我们知道经验是获得随着时间的推移,我们提出额外的现场应用培训过程中的参数和一个“先进的参数训练”会话在法国拉曼卓越中心。