7 2022年3月至2022年3月8日
美国
(电子邮件保护)
这个在线课程将从每天下午9.00点到5.00点(美国东部时间),每小时10分钟休息,中午休息一小时。
课程描述
- AES用于确定原子出席一个表面,他们的浓度和横向和深度分布。Nano AES涉及应用的非常小的区域分析表面,包括纳米粒子。薄膜的溅射深度资料也将包括在内。
- 介绍——术语,表面,类型的表面。
- AES -俄歇电子的生产的原则,标签,电离截面,手册,书籍,表面敏感性,非弹性平均自由路径和数据库、信息深度、样品处理。
- 定性分析,直接和导数光谱识别的元素包括例子使用软件,能量分辨率,峰值宽度,对动能和lineshapes化学的影响,等离子体,交叉过渡,ion-excited钻转换。
- 定量分析——钻强度,敏感性因素,检测极限,修正为lineshape变化,分析仪传播,电子的乘数效应,矩阵因素,平均矩阵敏感性因素,反向散射,入射角和排放的影响定量分析,标准光谱衍射效应。
- 文物——电离损失山峰,电子束的伤害。
- 仪表,场发射电子源,空间分辨率(梁)、信噪比、梁破坏,柱面镜分析仪(CMA),半球形分析仪(HSA)类型,操作模式,电子检测、脉冲计数,其他电子来源,其他类型的分析,散射分析仪,能量刻度校准真空系统,样品。
- 成像和空间分辨率,扫描电镜,验收面积分析,定位感兴趣的区域,修正地形和反向散射光束能量,空间分辨率(分析)的比较分析,电子能量损失(鳗鱼)成像,比散点图、线扫描,图像配准。
- 数据采集、处理和深度分析,谱减法,溅射,坑边分析,angle-resolved AES,因子分析,线性最小二乘拟合,样品旋转机械方法。数据处理方法的示例删除峰重叠问题,独立的不同化学状态,提高溅射深度剖面的信噪比会证明。
- 绝缘样品——电荷控制方法,对图像和光谱的影响,利用低能离子束。
- 应用程序——纳米领域的分析,粒子,通过孔、绝缘体、溅射深度nanolayers的概要文件。
- 工具选择和总结——因素需要考虑,一般的总结。
