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一个 在表面和界面化学是主要的重要的许多高创新产品的正确操作包括药物输送系统、医疗设备、有机电子显示器和个人护理产品。二次离子质谱(SIMS)已经成为一个成功的和受欢迎的技术来研究这种材料由于其高化学特异性,ppm表面灵敏度和空间分辨率的图像的能力几百纳米。<一个href="#Ref1">1 首先需要在西姆斯大纲的基本流程。主要离子通常数万keV能量影响表面沉积能量在几十纳米深度导致一个精力充沛的碰撞过程,这主要取决于离子能量,离子数量的原子,原子序数和样本的属性。二次离子从表面中解放出来,为有机物质,主要是支离破碎或结构叠。<一个href="#Ref1">1 模拟人生过程的示意图如图2所示的表面覆盖着叶酸分子束25 keV Bi分析 对于一个给定的能量条件的主要离子束(粒子原子序数和能源)将会有一个完整的人口特征和支离破碎的二次离子碎片。在更少的精力充沛的条件下,人口相对比较完整的碎片预计将增加,反之亦然。这种行为被发现的实验和开发的一种描述 在哪里 在实践中,G-SIMS需要两个光谱被收购, 的屏障G-SIMS表面分析社区的广泛运用是要求两个不同碎片离子光束产生适当的条件和需要空间注册(空间对齐)表面,这对异类样本尤为重要。最受欢迎的主要离子源是液态金属离子源,现在几乎每一个新的飞行时间销售西姆斯(ToF-SIMS)工具。最近,一种新型bismuth-manganese排放国<一个href="#Ref3">3 正如前面所讨论的,一个伟大的西姆斯是分析的优点是直接和具有良好的空间分辨率接近几百纳米。但是,缺乏通常的功能使用质谱分离方法,如色谱法或离子迁移率,结合大量分散的离子的光谱的复杂性意味着多组分的光谱的解释在西姆斯确实是非常具有挑战性的。高清成像的要求,说256×256像素,在大约10分钟分析时间地方重大限制仪器设计,使用方法,如离子迁移分离与飞行时间的毫秒是不相容的。显然,传统的液体和气体色谱法是根本不可能的。 在方程(1) 的 最近, 中间状态的频谱(绿色)≤1.7 第三个光谱为≤3.4(蓝色)
b介绍
G-SIMS
分离自始至终g-ogram样本