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可追踪的荧光引用

2019年6月25日|产品
通过伊恩·迈克尔
一系列新的五块荧光聚合物引用Starna科学可以提供认证的光谱扫描光谱校正,可追溯到NIST标准参考资料。在某些情况下,它们可以感知认证校准强度。设计的常规性能资格荧光分光光度计、荧光计,都可用于连续和flash工具和宽光谱范围允许用户选择一个参考材料具有类似的光谱特性的分析物。可以在各种各样的物理格式,适用于传统荧光谱仪等专业应用显微镜或PCR。
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