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新X-MET 8000分析器从日立高科技分析科学

2018年10月4日|产品
通过伊恩·迈克尔

日立高科技分析科学已经引入了一个新的入门级手持式x射线荧光(光谱仪)X-MET8000智能模型为用户提供一个更具有价格竞争力X-MET品牌包。大面积硅漂移探测器(SDD)探测器允许用户接三个校准:合金FP、铝FP和珍贵的《外交政策》。仪器有一个盾牌窗口从尖锐物品标准保护仪器,一个电池,让一天的操作(10 - 12小时)和电源。用户可以根据需要购买额外的配件。X-MET8000智能在内置的图书馆有超过1600的成绩和综合金属数据库作为一个选项后购买。健壮的设计,IP54和mil - std - 810 g标准兼容。用户也可以获得先进的数据管理与ExTOPE连接包括移动电话应用程序,为数据共享和安全存储云服务。

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