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Microspot薄膜厚度测量

2021年2月26日|产品
通过伊恩·迈克尔

CRAIC技术引入了CRAIC FilmPro™膜厚度测量软件。该软件包用于插入他们的显微分光光度计和控制Lambdafire™软件。CRAIC FilmPro™允许用户测量薄膜的厚度的材料透明和不透明的底物快速无损。一个完整microspot膜厚度的解决方案结合了CRAIC显微分光光度计与FilmPro™软件。的光谱从CRAIC映射技术,膜厚度可以创建整个设备的地图。

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