软件测量薄膜的膜厚值通过反射或透射率
复杂的软件测量小点在传输和反射薄膜厚度
介绍
CRAIC™技术已经开发了CRAIC Filmpro™软件与CRAIC工具供您使用。当添加到CRAIC显微分光计,CRAIC FilmPro™是可以的测量薄膜的膜厚值通过反射或透射率。你可以在微米尺度微观领域和许多不同的基质。这允许您分析不仅等基质薄膜硅,而且薄膜在玻璃或石英在平板显示器随处可见。你会发现这个软件非常容易使用和报告可以打印和保存的任何计算。此外,自动化包可以添加屈服能力自动监控膜厚变化对样品的表面。
CRAIC FilmPro™是为了控制你的CRAIC技术显微分光计和允许您获取数据并确定薄膜的厚度微观领域的传输和反射。
点击在这里学习更多有关科学microspot薄膜厚度的测量。
特性
关键功能*
- 模块化的软件插入Lambdafire™显微镜包。半岛综合体育官方APP下载德甲
- 手动或全自动控制CRAIC薄膜厚度的仪器。
- 运行在Windows 7®和Windows 8®
- 计算多层膜的厚度栈的能力
- 作品的传播和反射数据
- 大电影图书馆包含软件
- 大图书馆的基质包括与软件
- 轻松地添加更多的电影和基质
- 易于使用和维护
- 从的的专家显微镜半岛综合体育官方APP下载德甲
反射膜厚度
膜厚度与不透明的底物
CRAIC FilmPro™能够运行CRAIC显微分光计获取反射干涉光谱快速、轻松地。 使用电影和基板的大型图书馆,CRAIC FilmPro™就能够计算的厚度从反射率数据精确许多类型的电影。 |
 |
完美的视觉科学™
*功能和规格取决于仪器的配置。规格可以不经通知自行调整。
UV-visible-NIR显微镜,UV-visible-NIR显微分光计和拉曼显微分光计通用实验室仪器。他们没有被清除或批准的欧洲试管指令,美国食品和药物管理局或其他机构的诊断,临床或其他医学使用bdapp官方下载安卓版。