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吴克群樱井和Wenyang赵从x射线物理群日本国家材料科学研究所(年来)已经成功地开发新技术进行分析和化学元素通过图像的成像目标使用一个普通的材料,可见光数码相机。有轻微修改,他们可以从图像处理获得x射线光谱。这项技术将允许更简单和方便的x射线分析适用于更广泛的领域在不同的条件下。
研究小组最近发现方法进行分析和成像的化学元素使用荧光x射线数据来自数码相机配备了可见光CMOS(互补金属氧化物半导体)设备。相机还配备一个不透明的薄窗,只允许x射线穿透,在镜头和传感器之间。当样本所发射的荧光x射线穿过窗户,进入互补金属氧化物半导体元件,产生电荷。可以量化的入射x射线的能量瞬间测量产生的费用。然而,指控记录生成的多个像素,像素数据经常丢失。为了解决这个问题,研究小组开发了一种方法来检索数据丢失通过检查费用在像素的分散状态和处理图像的数量和费用最初记录的位置。使用这种方法,团队可以获得可靠的x射线光谱以稳定的方式。研究小组分析了陶瓷板所发射的荧光x射线图所示使用这种方法,并发现钴仅在上盘表面涂成蓝色,但不是在底部表面。
研究小组还成功地创建图像,图像显示了不同元素的分布在一个示例中,使用针孔照相机的原理。在未来的研究中,研究小组希望有助于材料开发应用的技术想象运动视频图像和微量化学元素的化学反应过程。
本研究是在科学报告。
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