WITec增强了粒子ParticleScout自动化分析工具提供更大的速度和多功能性的发现,对微粒子进行分类和确定。ParticleScout现在包括积分时间优化使用信噪比确定每个粒子测量多久识别。这不仅大大减少了总测量时间,但是荧光的影响减少到最低限度。它也增加了光晕校正等图像处理功能,智能缩放显示粒子信息动态地根据区域和多个样本区域目标。这些补充的集成和暗场的可能组合,具有亮,照明和传输数字化的样本。
引入了一个软件程序加速测量轮样品过滤器等含有均匀分布的颗粒。它允许一个楔形截面选择进行分析,结果可以代表整个外推。另一个创新是智能紧密相邻或接触颗粒的分离。这是特别有用的密集、异构样本。
数据后处理与WITec TrueMatch™喇曼更新数据库管理软件,包括混合光谱的识别单个组件的能力。达到质量指数(HQI)计算也与自动优化降噪和底物谱去除。这些进步一起启用一个新样本描述的精确程度。定量报告,总结了ParticleScout调查的结果现在可以格式化等预配置模板表、条形图柱状图或饼图清晰和有效的数据表示。
