Rigaku公司宣布下一代Rigaku NANOHUNTER II台式全反射x射线荧光光谱仪(TXRF)使高灵敏度ultra-trace元素分析,在液体或固体表面的物质含量水平。全反射x射线荧光光谱分析方法的入射电子束的x射线就啃食样本,提供低背景噪半岛综合体育官方APP下载德甲音,高灵敏度测量ultra-trace元素。
由于越来越严格的环保法规,有不断增长的需求为一个更简单的方法进行分析ppb级有关,例如,砷(As)、硒(Se)和镉(Cd)液体废物和废水流中包含的工厂。使用NANOHUNTER II光谱仪,分析含量水平成为可能,即使一个很小的样本大小,仅仅通过添加一滴液体试样容器,干燥,然后执行测量。定量分析使用内部标准物质也可以轻松地执行。
NANOHUNTER II结合全自动光轴调整系统,提供稳定的高灵敏度分析在一个容易处理的台式形式因素,允许快速和无故障运行。高功率600 w x射线源,新开发的镜子(光学)和大面积硅漂移探测器(SDD),第二NANOHUNTER光谱仪使高强度,高灵敏度测量。乳糜泻的下限检测是两磅。和Se液体,十亿分之0.8或更低的检测下限已经实现。
一个重要的优点是效率高,Kα行可以兴奋。直到现在,激动人心的Kα行48Cd已经非常具有挑战性,所以使用L-lines从业者依赖分析,是很难衡量的。新开发的光学受雇于这个设备可以用于大功率激约30 keV的来源,这使得它可以测量Kα行高信噪比和明确定义的山峰(在测量光盘)。广泛采用此功能预计在工厂的筛选和分析等领域浪费液体和饮料的分析,如酒。
在分析固体表面的面积,有需求(主要是薄膜和厚膜)领域的渗透略比表面的分析。对于这些类型的分析,方法称为掠入射x射线荧光(GI-XRF)采用即元素在表面之下感到兴奋不同入射角的x射线源。因为NANOHUNTER II光谱仪有必要的功能来改变入射角,表面可以进行深度剖面分析。GI-XRF技术适用于纳米尺度研究。
