用于工业取证的EDXRF

工业取证对工业制造过程中不同阶段遇到的潜在问题进行分析响应，检查产品生命周期中的每个步骤，以识别、预防和解决制造问题。在工业取证中，x射线荧光(XRF)是一种用于非破坏性分析的分析工具，用于识别和消除生产和分销过程中的制造问题或污染。XRF分析为作业者在失效分析和根本原因识别中确定异物的元素组成提供了一种方法，以优化质量控制和测试程序。

报告中描述的分析是使用Rigaku NEX DE VS直接激励可变点EDXRF光谱仪进行的。Rigaku NEX DE VS分析仪配有高分辨率相机和自动准直仪，可对样品进行精确定位，分析1毫米，3毫米和10毫米的光斑尺寸。具有小点测量能力的基本参数方法学表明，能够分析不规则形状的样品，并为研究和鉴定未知成分的外来物质提供有价值的工具。