Wavelength-dispersive x射线荧光(WD-XRF)允许测量多达83多种形式的元素周期表的样本和性质:固体或液体,导电或绝缘。光谱仪的优势超过其他技术分析的速度,一般简单的样品制备,稳定性好,精度和宽动态范围从ppm水平(100%)。
精度分析粉末可以受颗粒大小影响和矿物学的效果。尽管尺度和粒度的影响通常可以最小化通过研磨低于50µm pelletising在高压下,经常矿物学的影响不能完全移除,或困难粒子不能被分解低于所需的大小。
融合这些氧化材料的最好的方式是完全移除粒度和矿物学的效果。从本质上讲,过程包括加热的混合物样品和硼酸通量,即四硼酸锂和/或偏硼酸锂在高温下(1000 - 1200°C)通量融化,溶解样品。整体构图和冷却条件必须这样玻璃产品冷却后一阶段。
