相关的二维材料的拉曼显微镜调查

共焦拉曼成像是一种理想的方法研究二维材料。它可以用来分辨层的取向和研究缺陷,应变和functionalisation作为拉曼特性取决于分子键,相对取向和层数。进一步的细节得以成像与其他方法如SEM, AFM, SNOM)以及光致发光显微镜。结合多个方法的信息,二维材料可以更彻底地分析。本研究简要讨论二维材料的发展,介绍了拉曼和相关技术,并提供了示例的测量石墨烯、金属氧化物半导体₂和WS₂。