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等离子体飞行时间质谱仪分析

PP-TOFMS-HORIBA
等离子体飞行时间质谱仪分析视频:PP-TOFMS技术简介
等离子体飞行时间质谱仪分析研讨会:PP-TOFMS CEA-LETI的洁净室

超高速、敏感和高分辨率的深度分析技术

等离子体飞行时间质谱仪分析地址需要的材料科学家在广泛的应用领域。PP-TOFMS提供快速元素深度分布的无机材料。的速度和易用性PP-TOFMS允许减少优化时间的增长过程尽可能多的研究科学家努力减少时间从发现到应用的新材料。

同时飞行时间质谱仪的全覆盖可用于每个点的深度允许非疑似污染的检测。这是关键的失效分析和优化薄膜过程往往不再是基于超高等级方法(即喷墨印刷…)。

PP-TOFMS是材料科学家的理想close-to-process工具:

  • 检查化学计量学与深度层从纳米到几十微米
  • 确定掺杂深度分布
  • 识别未知的污染
  • 监控界面成分和宽度
段: 科学
部门: GDOES
制造公司: HORIBA法国SAS

PP-TOFMS仪器

  • 紧凑的
  • 快速
  • 容易得到手
  • 一般在材料科学中的应用
  • 多用户

  • 辉光放电等离子体源
  • 独特的专利射频脉冲模式
  • 没有样品制备,没有样品在特高压环境中转移
  • 容易(水平)和人体工程学的样本定位与激光的帮助
  • 高样本公差大小从0.7厘米到30厘米
  • 标准4毫米阳极(4毫米⌀火山口)
  • 可用2毫米阳极(2毫米⌀火山口)
  • 无油环境(干泵)
  • 容易清除和清洗的部分来源

TOF分析仪

  • 正交提取
  • 高分辨率reflectron(分辨率5000 208)
  • 用户友好的、人体工程学、快速
  • 可能过滤掉4强烈的离子对高动态:用户选择离子和振幅衰减

软件

  • 快速自动启动程序
  • 实时显示深度资料
  • 一个点击半定量深度剖面
  • 远程在线功能

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