方程式
希登的方程式是一个独特的静电四极西姆斯探测器,专门的质谱分析正面(+ ve)和负面(负)二次离子从固体样品。其集成45°静电行业离子能量分析器,希登的方程式可以同时分析离子能量分辨率为0.2电子伏特(eV)。这使它的一个最多才多艺的工具在一系列质谱离子分析应用程序,包括:
- 延长XPS的灵敏度范围超过1000倍
- 动态和静态模拟人生
- 聚焦离子束(FIB)质谱分析
- 中性二级质谱分析(需求)
- 溅射深度剖析
- 气急败坏的离子和中性的质量/能量分析
从希登分析离子分析的工具
一个受欢迎的补强适合售后系统,理想作为附加XPS系统和聚焦离子束FIB显微镜系统例如,希登均衡器提供高灵敏度和可选的微分泵来满足成像,深度分析和质谱的需求用户的应用程序。
如果你需要更多的信息关于我们的静电四极西姆斯工具集成到您的现有XPS系统、FIB显微镜系统或如果你需要地面行动解决方案离子分析,简单联系今天希登分析团队的一员。
的西姆斯映射器软件提供了一个简单,但功能强大,用户界面模拟人生的工具。待分析的物种选择从一段表来看,强调质量干扰,数据收集是整个图像分析。深度资料封闭区域后可以定义分析和图像可能堆放在三维重建浓度剖面。缺乏经验的经营者,或者在生产环境中,分析可以从以前存储的模板和全自动运行“排队”运行和自动阶段选项是可能的。一系列数据导出格式允许结果由其他软件包用于增强显示或处理。
- 三维成像
- 深度剖析和高度灵活的控制
- 简单的选择的物种
- 简单的设置还没有经验的用户完全控制专家
- 现场互动图像和深度剖面的大窗户
- . csv和专有格式导出
