+ 44 (0)1925 445225
选择页面

紧凑的西姆斯

为进一步的信息和价格,请与我们联系。

紧凑的西姆斯——一个设计突破表面分析

希登紧凑SIMS工具是专为快速和容易的描述层结构、表面污染和杂质敏感检测的正离子被氧气主要离子束辅助并提供同位素敏感性在整个周期表。离子枪几何集提供理想的纳米表面附近的分辨率和深度分析。

概述

希登紧凑SIMS工具是专为快速和容易的描述层结构、表面污染和杂质敏感检测的正离子被氧气主要离子束辅助并提供同位素敏感性在整个周期表。离子枪几何优化是理想的纳米表面附近的分辨率和深度分析。

旋转旋转木马允许10个样本同时加载测量到dry-pumped真空室。仪器具有占用空间小,非常容易使用,它拥有相同的控制软件和离子枪系统功能齐全的希登SIMS工作站的家庭,提供深度资料,3 d和2 d图像和质谱数据。马克西姆- 600 p检测器是基于高度可靠的希登6毫米三重四极滤质器与脉冲离子检测。一个电子枪选项可用于绝缘样品的分析。

除了西姆斯,紧凑的西姆斯有一个需求设施用于量化的高浓度元素,如合金。

特性

进一步的阅读

西姆斯映射器软件提供了一个简单,但功能强大,用户界面模拟人生的工具。待分析的物种选择从一段表来看,强调质量干扰,数据收集是整个图像分析。深度资料封闭区域后可以定义分析和图像可能堆放在三维重建浓度剖面。缺乏经验的经营者,或者在生产环境中,分析可以从以前存储的模板和全自动运行“排队”运行和自动阶段选项是可能的。一系列数据导出格式允许结果由其他软件包用于增强显示或处理。

  • 三维成像
  • 深度剖析和高度灵活的控制
  • 简单的选择的物种
  • 简单的设置还没有经验的用户完全控制专家
  • 现场互动图像和深度剖面的大窗户
  • . csv和专有格式导出
Baidu
map