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ToF-qSIMS工作站

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系统创新的飞行时间四极西姆斯

的希登TOF-qSIMS系统是专为表面分析和深度分析的应用范围广泛的材料包括聚合物、制药、超导体、半导体、合金、光学和功能性涂料和电介质,跟踪测量组件sub-ppm水平。

概述

新希登TOF,飞行时间分析器提高西姆斯给用户最好的高性能的动态范围四极西姆斯一起并行数据收集和分子片段分析的优势从飞行时间SIMS, TOF-SIMS。

TOF-qSIMS能力使得高光谱成像的空间详细的材料分析解决。

TOF-qSIMS系统提供静态TOF-SIMS的综合能力,和高动态范围深度剖析四极西姆斯。

完全集成和优化高性能SIMS分析,TOF-qSIMS工作站系统包括多口特高压室,TOF-SIMS分析器,西姆斯希登的格言四极分析器,IG20气体主要离子枪,Cs金属离子枪和样品持有人为了适应范围最广泛的样本。定量分析的高灵敏度的需求模式包括冶金薄膜、导电和绝缘氧化物和其他合金材料和涂料。SIMS增强设施包括氧气洪水,包括电子电荷中和和真空退火作为标准。

模拟人生Mapper PC软件选项提供了与2 d和3 d视图映射能力在样本地区。电子控制包括优化高动态范围深度剖析。TOF SIMS分析功能包括完整的光谱分析,逐个像素的样本图像。

模拟人生PC数据系统,MASsoft专业,包括一个简单的用户配置界面控制和数据采集,包括设置和控制的主要离子束光栅表面分析和深度剖面的应用程序。

特性

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西姆斯映射器软件提供了一个简单,但功能强大,用户界面模拟人生的工具。待分析的物种选择从一段表来看,强调质量干扰,数据收集是整个图像分析。深度资料封闭区域后可以定义分析和图像可能堆放在三维重建浓度剖面。缺乏经验的经营者,或者在生产环境中,分析可以从以前存储的模板和全自动运行“排队”运行和自动阶段选项是可能的。一系列数据导出格式允许结果由其他软件包用于增强显示或处理。

  • 三维成像
  • 深度剖析和高度灵活的控制
  • 简单的选择的物种
  • 简单的设置还没有经验的用户完全控制专家
  • 现场互动图像和深度剖面的大窗户
  • . csv和专有格式导出
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