固体阳极电子软x射线光源的影响

固体阳极电子轰击源

642型软x射线电子影响光源可以用于物理实验照片和元素特定的极端紫外线(远紫外线)测量。经常用于光谱仪校准以及相机/传感器系统的表征。新设计的电子软x射线源有许多特性的影响。两个版本是可用的,单阳极和多个阳极,六(6)阳极旋转木马。在这两种模型,阳极很容易取代改变大气的发射能量。校准/流程应用程序,多个发射端口可以同时照射样品/参考探测器。它有1、10和30瓦特功率的评级。

新控制器是一个易于使用的高压电源和电子束发射灯丝电流控制器。它提供了集成和安全联锁控制软x射线光源电子的影响。专用电缆连接控制器和光源的真空附件。

型号642 PDF数据表


附加信息:

规范

加速电子的影响,固体阳极
波长范围 线发射从< < 1到25 nm
通量在明亮的线条 ~ 10 e11光子sec-1 sterradian-1
源排放 阳极材料价带
发射均匀性 双光束输出,平衡
电力供应 10 kV马克斯,包含控制器)
操作压力 10 e-6托范围或更低
大小 大约长圆柱形,长8“直径x 12”
重量 10磅

样品光谱

例子1到5 nm地区发射光谱 例子5到20 nm地区发射光谱

轮廓图

麦克弗森642型软x射线光源

选择出版物

文摘:静态x射线成像(SXI)是一个国家点火装置(NIF)诊断使用CCDcamera记录时间综合x射线图像目标特征,如激光腔的入口孔。SXI NIF目标上有两个专用的定位器室查看上方和下方的目标,和感兴趣的x射线是870 eV“软”频道和3 - 5 keV的“硬”频道。原来的相机使用大画幅backilluminated 2048 x 2048像素CCD传感器与24微米。我们描述的特点,新相机和当前性能数据(量子效率、平场和动态范围)的前置和背景相机。
a . t . Teruya n e·帕尔默·m·b·施耐德·m·贝尔·g·西姆斯k . Toerne k . Rodenburg m·克罗夫特,m . j .泛滥平原m . r .烦心事e·d·罗马诺·k·d·雅各比
文摘:原子能委员会建立了一个实验室,致力于x光相机的标定主要用于激光兆焦设施在法国的波尔多地区。由于双晶单色仪专门设计用来执行这样的校准,校准变薄,黑色背景Roper科学生产的x射线CCD inc .)在2.2 - -8.9 keV光谱区域。量子效率的结果是在良好的协议与以前的作品。解释略有差异,我们研究单色化的区别方法执行使用晶体单色器或过滤器。结果表明,后一种方法似乎过于依赖x射线源参数进行准确和相关校准x射线照相机。
休伯特,诉Prevot
文摘:p沟道电荷耦合器件(ccd)由n型硅晶圆最初开发地面光学和近红外望远镜。这些ccd的厚耗尽层提供高量子效率的显著优势(QE)硬x射线。另一方面,高获得量化宽松软x射线与黑色背景(BI)和完全耗尽ccd只有薄薄一层表面存在死亡的发生率。因此,p沟道BI ccd可以作为优良的宽带应用x射线探测器。我们已经开发出这样一个专门为软x射线成像设备(SXI) x射线天文学上卫星ASTRO-H,将在2014年推出。我们以前报道,耗尽层的ccd, SXI-CCDs的原型,厚度超过MathML源视图。在本文中,我们报告一个新颖的软x射线响应p沟道BI ccd。首先,我们照射荧光x射线的O, F, Na,铝,硅和K SXI原型。这个实验表明,我们的CCD显著低能尾结构软x射线响应。由于低能尾巴的强度更大的低能量的x射线,尾巴是起源于CCD表层。 Then, we fabricate a new type of CCDs by applying an alternative treatment to its surface layer. The soft X-ray response of the CCD is measured by irradiation of monochromatic X-rays from 0.25 keV to 1.8 keV in a synchrotron facility, KEK-PF. The intensity of the low-energy tail for 0.5 keV incident X-ray is one order of magnitude smaller than that for the previous CCD. The same treatment will be applied to the surface layer of the SXI flight model.
Hiroshi及其Shutaro建筑师,清目的,Naohisa Anabuki, Hiroshi Tsunemi,菅直人总裁中西宏明Takayoshi Kohmura,池田Shoma Kenta Kaneko Tatsuo渡边Hiroshi村上,Kazuya坂田,Shotaro Todoroki, Nobuyoshi Yagihashi, Eiki美津浓,Masaharu Muramatsu表示,铃木Hisanori Shin 'ichiro高木涉
文摘:高质量的吸收光谱测量在桑迪亚国家实验室最近取得了半岛综合体育官方APP下载德甲Z设施在软x射线范围内。详细的光谱分辨率知识是一个关键的要求他们解释。我们提出的方法测量波长依赖晶体光谱分辨率,7 - 17与特定的关注范围。我们这个过程适用于一阶分辨率的情况下的邻苯二甲酸氢钾(KAP)凸晶体谱仪。校准的问题之一是,推断晶体分辨率要求x-raysource发射特性宽度和谱配置文件是已知的。这一目标,我们解决曼森x-raysource Si,艾尔,Mg Kα线配置文件使用KAP晶体谱仪在二阶达到较高的分辨率。这个信息是利用测量一阶KAP解决权力λ/Δλ∼1100 - 1300 7 - 10一个波长范围。
g·鲁伊赛,j·e·贝利·g·a . Rochau g·s·邓纳姆,l . b . Nielsen-Weber和c r .球
文摘:封闭的和有x射线探测器通常需要修正,以抵消仪器在数据的影响。纠正的方法获得的变化在封闭的摄像机部署国家点火装置(NIF)。四个技术描述封闭的x射线探测器。当前主要的方法描述x射线仪器由激光产生等离子体的生产控制的x射线辐射NIF作为专用镜头。最近委托脉冲x射线源有可能取代其他表征系统。这x射线源特性脉冲电源组成的马克思发生器,电容器银行被指控串联和并联放电,产生300千伏。脉冲x射线源最初遭受很大的抖动(∼60 ns),但最近的脉冲激光触发火花隙减少了∼5 ns的抖动。初步结果表明,该工具是一个有前途的替代其他平面部署技术
毕讷德提汗科幻,LR Hargrove博士,格伦•SM Simanovskaia N,持有人JP,巴里奥斯马,哈恩D,内格尔SR,贝尔点,布拉德利DK
文摘:国家安全技术(NSTec)开发了x射线成像系统的校准程序。用于校准的x射线源都是二极管类型和二极管/荧光剂组合。校准x射线探测器是x射线源的精确校准的关键。能量色散探测器和光敏二极管测量总通量。我们开发了校准技术的探测器使用放射性源可追溯到国家标准与技术研究所(NIST)。德国同步加速器物理科技Bundestalt (PTB)是用来校准硅光敏二极管在60 keV能量从50 eV。
测量x射线相机上使用NSTec x射线源包括量子效率平均所有像素,相机每像素,每个光子计数和响应变化的传感器。完成所需的仪器校准。x射线范围从720 eV 22.7 keV。x射线源产生窄波段,让我们来确定属性作为x射线能量的函数。的校准都是几种类型的成像设备。有照明,照亮前面CCD(电荷耦合装置)传感器,和CID照相机(电荷注入设备)类型。CCD和CID照相机类型显著差异在他们的一些属性影响x射线强度测量的准确性。这里所讨论的所有相机都基于硅。量子效率变化的测量与x射线能量比较模型的传感器结构。相机不是back-thinned相比那些。
迈克尔·j·泛滥平原,迈克尔烦心事,帕特里克·罗斯,约书亚·李,玛丽莲施耐德,内森·帕尔默和阿兰Teruya
文摘:静态x射线成像(SXI)是一个诊断的国家点火装置(NIF)测量的位置产生的x射线激光触及金箔的目标。所采取的强度分布SXI相机NIF拍摄期间用于确定如何准确NIF目标激光。这是适当的NIF操作的关键。成像系统位于顶部和底部的NIF目标室。硅传感器CCD芯片是x射线敏感,拥有大量格式数组(2 k x 2 k), 24μm方形像素,和15μm厚。多阳极曼森x射线源,操作10 kv和10 w,被用来描述和成像系统校准。输出光束严重过滤窄谱波束宽度,给出一个典型的决议E /ΔE≈10。x射线强度测量用一个绝对的光电二极管,精度优于1% Si K边,在更高的能量比5%。x射线束提供完整的CCD照明是平的,最大值,最小值在±1%。频谱效率是衡量10点能量乐队从930 eV - 8470 eV。 We observed an energy dependent pixel sensitivity variation that showed continuous change over a large portion of the CCD. The maximum sensitivity variation occurred at 8470 eV. The geometric pattern did not change at lower energies, but the maximum contrast decreased and was not observable below 4 keV. We were also able to observe debris, damage, and surface defects on the CCD chip. The Manson source is a powerful tool for characterizing the imaging errors of an X-ray CCD imager. These errors are quite different from those found in a visible CCD imager.
m·j·哈夫·m·b·施耐德

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