电影SurveyIR——掠射角红外显微镜对薄膜特性

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电影SurveyIR™是一个不可或缺的工具,调查人员在电信、电子和半导体行业质量保证和薄膜(< 1µm厚度)表征和研究人员开发新的薄膜材料。

产品说明:电影SurveyIR

应用领域

• 薄膜材料的研究和开发

• 薄膜污染物/缺陷分析

• 膜厚度测量和一致性

• 润滑/氧化

• 表面改性及表征

• 单层膜的表面

• 纳米材料

• 有机导体/半导体

• 有机发光二极管(oled)

电影SurveyIR™规范

外部安装,连接红外光束输出

薄膜分析物种的金属、半导体、或电介质基板

Microscope-mounted,液态氮冷却MCT探测器提供了最大的灵敏度

手动X, Y, Z焦点和标本操作

显微镜框架设计提供标本从1优惠券到12“x 1磁盘

外部反射和通用电气ATR红外入射角:60°- 85°

名义上的外部反射模式标本红外光斑大小:

250、167、133、107、67年,40µm

锗ATR促进薄膜分析电介质基板:

名义ATR接触标本大小:250年,167年,133年,107年,67年,40µm

安装阶段接触警报/力对ATR测量读数

机上,用户可选择的红外偏振镜最大化吸收强度和指引方向的研究

eSpot™软件控制显微镜功能,照明模式,和现场图像观察、图像捕获、文档、分析和存储。

船上5 mp摄像头有助于高分辨率图像和视频捕捉

显微镜的光学放大查看模式结果在.77µm /像素样本平面上

查看调查模式ATR分析促进标本的目标