建立在经验和成功的证明了ε3 x射线荧光光谱仪,ε4是一个多功能台式光谱仪分析仪对任何工业部门需要从氟(F)元素分析镅(Am)地区从研发到过程控制。结合最新的激发和检测技术与成熟的软件和智能设计,ε4方法的分析性能更强大,落地式光谱仪分光计。
业版
概述
ε4的任何地方
由于其较低的基础设施需求,ε4可以放置在生产线流程中的任何地方。其高性能使大多数应用程序操作环境条件,减少对氦或真空维护成本。

之外的价值分析
能量色散x射线荧光光谱仪的元素分析范围从碳(C)镅(Am)和浓度范围从sub-ppm 100 wt %。
使用Omnian standardless分析,分析时使用指纹材料测试速度是重要的或使用Stratos快速、简单和非破坏性分析涂料、表面层和多层结构。还可以使用增强的数据安全等法规的支持法规遵循FDA 21 CFR 11或部分使用油痕量化fuel-biofuel混合新鲜和使用润滑油。

准备好任何样本类型
ε4处理各种各样的样本类型,包括固体、压制和松散粉末、液体和过滤器。它执行无损定量分析的元素碳(C)氟镅(Am),浓度从100%下降到sub-ppm的水平,从几毫克公斤样品。
ε4是一个健壮和可靠的替代传统的系统为各种行业和应用程序,即使是外部重要的光元素分析,包括:水泥生产、采矿、矿物选矿、铁、钢和有色金属、RoHS检测和量化,石油、石化、聚合物及相关行业,玻璃生产、取证、制药、医疗产品、环境、食品和化妆品等。

特性
灵活的配置
ε4是一个高度灵活的分析工具可用10瓦版本中元素分析(F - Am)从研发到过程控制领域。更高的样品处理量或延长在更具挑战性的环境中轻元素的能力和15-Watt版本可用,甚至可以分析碳、氮和氧。

最新进展
ε4仪器结合最新的激发和检测技术和先进的分析软件。15-Watt x光管结合高电流(3 mA),最新硅漂移探测器SDD30一起的紧凑设计光路,提供更好的分析性能比50瓦功率的EDXRF甚至台式WDXRF系统功率效率的好处。

快速和敏感
快速测量是通过使用最新的硅漂移探测器技术,产生更高的强度。
独特的探测器电子使线性计数率的能力1500000 cps死时间(50%)和计数率独立解决通常比135电动汽车更好的分离分析线的光谱。这允许ε4光谱仪在全功率运行,因此样本实现更高的吞吐量,而传统的EDXRF台式仪器。

降低氦消耗
ε4的高性能使许多应用程序在空气气氛,没有长时间和成本开销氦或真空系统的维护。当测量空气中,钠的低能x射线光子特性,镁和铝,对气压和温度的变化很敏感。内置温度和气压传感器弥补这些环境变化,确保优秀的结果,无论天气如何。

加强数据安全
的加强数据安全选择ε系统软件可以帮助你加强你的审计跟踪,最大限度地减少错误的风险,并证明你的光谱仪仪器按预期工作。先进功能包括用户管理、操作日志记录和数据保护。
规范
样品处理 | x光管 | 探测器 | 软件 |
---|---|---|---|
10-position移动换样器 | 金属陶瓷侧窗最大稳定 | 高分辨率硅漂移探测器(SDD),通常是135 eV @ Mn-Kα | 元素筛选与Omnian standardless分析解决方案 |
光谱仪可以容纳样本52毫米直径(2英寸) | 50微米薄铍窗高灵敏度的光元素(钠、镁、铝、硅) | 马克斯的计数率1500000年计数/ s死时间50% | 通过/失败与指纹分析的解决方案 |
微调控制项包含更好的空气过滤器精度分析 | Ag)阳极x射线管的最佳性能P, S和Cl分析 | Thin-entrance高灵敏度探测器窗口 | 加强数据安全的监管环境 |
大样本模式分析大样本10厘米高 | Stratos多层样品 | ||
一个灵活的校准在新鲜和润滑油使用穿金属油痕 |
配件
标准(参考资料)
软件
样品制备
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