
GD-Profiler 2™

GD-Profiler 2™提供快速,同时分析感兴趣的所有元素,包括气体氮,氧,氢和氯。它是薄和厚的电影描述一个理想的工具和过程的研究。
GDOES是一种分析技术,提供超快的元素深度剖面分析层状材料,同时提供所有元素的定量测量和纳米分辨率深度和厚度。HORIBA科学的脉冲射频GDOES仪器微分干涉分析(下降),是理想的同伴描述工具材料研究和细化过程。
创新脉冲射频源允许所有类型的固体样品分析和最优性能,从第一纳米,µm超过150。高分子材料很容易与专利气急败坏的说超快速溅射(UFS)。此外,这个源也可以用来准备样品表面扫描电子显微镜(SEM)。
所有的元素都可以测量,包括氢氘,锂、碳、氮、氧等。
专利微分干涉分析(浸)允许直接测量的深度作为时间的函数,与nanometric精度与GD同时进行分析。
专利高动态范围探测器(HDD)中使用的所有HORIBA科学GD工具,允许实时、自动优化的敏感性,分析在一层的微量元素,以及第二层没有妥协或需要做任何调整。
发现一个全新的世界与辉光放电的信息光学发射光谱仪
你有任何问题或请求吗?用这种形式来联系我们的专家。